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Alle auf einer Wellenlänge? : Warum bei RFID die Frequenz entscheidet
Schaarwächter, Michael; Illig, Steffen; Lerche, Lukas; u. a. (2025): Alle auf einer Wellenlänge? : Warum bei RFID die Frequenz entscheidet, in: Bamberg: Otto-Friedrich-Universität.
Faculty/Chair:
Conference:
Deutscher Bibliothekartag in Hannover, BiblioCon2025 ; Bremen
Publisher Information:
Year of publication:
2025
Pages:
Source/Other editions:
113. Auflage KOBV
Year of first publication:
2025
Language:
German
Keywords:
-
Type:
Conferenceobject
Activation date:
December 16, 2025
Permalink
https://fis.uni-bamberg.de/handle/uniba/111053